Нелан-оксид плюс
Малая инновационная компания
RUS | ENG
16 июля 2013

6-ая ШКОЛА «МЕТРОЛОГИЯ И СТАНДАРТИЗАЦИЯ В НАНОТЕХНОЛОГИЯХ И НАНОИНДУСТРИИ»

Школа проводилась в Физико-технологическом институте Уральского Федерального Университета имени первого президента России Б.Н. Ельцина c 4 по 7 июня 2013.

Тематика школы включала в себя российскую и международную практику в области метрологии, сертификации и стандартизации продукции наноиндустрии. Нормативное и методическое обеспечение наноиндустрии РФ, а также вопросы прикладной метрологии в наноиндустрии: разработка и применение методов и средств измерений в производственных процессах и контроле качества продукции. Были освещены и вопросы характеризации перспективных наноматериалов и наноструктур разных типов современными методами измерений.

Степанова Кристина выступила с устным докладом «Применение атомно-силовой микроскопии для исследования наноанодированных металлов и их сплавов», подготовленным совместно с Александром Кокатевым. В докладе были представлены новые результаты исследований нанопористых и нанотрубчатых пленок, выполненных на базе НИЛ «Физика наноструктурированных оксидных пленок и покрытий» и МИП ООО «Нелан-оксид плюс».

Программа Школы включала в себя лекции приглашенных ученых, устные и стендовые доклады. Также в рамках школы были представлены презентации современного исследовательского и метрологического оборудования для наноиндустрии от ведущих производителей.